溫度沖擊試驗(yàn)箱是一種為測試產(chǎn)品提供極高溫和極低溫環(huán)境并在短時間內(nèi)進(jìn)行冷熱沖擊的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，主要用于電子、通訊、材料、儀器儀表、科研等領(lǐng)域的產(chǎn)品進(jìn)行安全可靠性試驗(yàn)和產(chǎn)品篩選試驗(yàn)，以測試產(chǎn)品因熱脹冷縮而產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)和形態(tài)變化或物理損傷，是進(jìn)行技術(shù)開發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制等科研生產(chǎn)的理想環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。
根據(jù)試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)過程中的狀態(tài)不同，溫度沖擊試驗(yàn)箱可分為靜態(tài)溫度沖擊箱（樣品靜止不動，即三箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱）和動態(tài)溫度沖擊箱（樣品隨樣品籃移動，即兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱），根據(jù)樣品籃的移動方式不同，
動態(tài)溫度沖擊箱又分為立式升降和臥式平移兩種類型，類型一：動態(tài)立式升降方式的試驗(yàn)設(shè)備主要用于小載荷的試驗(yàn)，如IC模塊等，類型二：臥式平移方式的試驗(yàn)設(shè)備用于大負(fù)載樣品的溫度沖擊試驗(yàn)。
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